UNI-MB - logo
UMNIK - logo
 
E-resources
Full text
  • Comparison of low- P T phot...
    Åkesson, T.; Albrow, M. G.; Almehed, S.; Anassontzis, E.; Batley, R.; Benary, O.; Bøggild, H.; Botner, O.; Breuker, H.; Burkert, V.; Callen, B.; Carosi, R.; Carter, A. A.; Carter, J. R.; Chernyatin, V.; Choi, Y.; Cleland, W. E.; Dagan, S.; Dahl-Jensen, E.; Dahl-Jensen, I.; Damgaard, G.; Dolgoshein, B.; Eidelman, S.; Fabjan, C. W.; Gavrilenko, I.; Goerlach, U.; Goloubkov, Y.; Hansen, K. H.; Hedberg, V.; Ioannou, P.; Jarlskog, G.; Jensen, T.; Kalinovsky, A.; Kantserov, V.; Katsanevas, S.; Kourkoumelis, C.; Kroeger, R.; Kulka, K.; Lissauer, D.; Lorstad, B.; Mannelli, I.; Markou, A.; Mayburov, S.; McCubbin, N. A.; Møller, R.; Molzen, W.; Nevsky, P.; Nielsen, B. S.; Olsen, L. H.; Oren, Y.; Resvanis, L. K.; Schukraft, J.; Shemleva, A.; Sidorov, V.; Specht, H.; Stumer, I.; Sullivan, M.; Thodberg, H. H.; Thompson, J. A.; Williamson, J.; Willis, W. J.

    Physical review. D, Particles and fields, 11/1988, Volume: 38, Issue: 9
    Journal Article