UNI-MB - logo
UMNIK - logo
 
E-resources
Full text
Peer reviewed
  • Joint Measurement of the U ...
    Almazán, H.; Andriamirado, M.; Balantekin, A. B.; Band, H. R.; Bass, C. D.; Bergeron, D. E.; Bernard, L.; Blanchet, A.; Bonhomme, A.; Bowden, N. S.; Bryan, C. D.; Buck, C.; Classen, T.; Conant, A. J.; Deichert, G.; del Amo Sanchez, P.; Delgado, A.; Diwan, M. V.; Dolinski, M. J.; El Atmani, I.; Erickson, A.; Foust, B. T.; Gaison, J. K.; Galindo-Uribarri, A.; Gilbert, C. E.; Hans, S.; Hansell, A. B.; Heeger, K. M.; Heffron, B.; Jaffe, D. E.; Jayakumar, S.; Ji, X.; Jones, D. C.; Koblanski, J.; Kyzylova, O.; Labit, L.; Lamblin, J.; Lane, C. E.; Langford, T. J.; LaRosa, J.; Letourneau, A.; Lhuillier, D.; Licciardi, M.; Lindner, M.; Littlejohn, B. R.; Lu, X.; Maricic, J.; Materna, T.; Mendenhall, M. P.; Meyer, A. M.; Milincic, R.; Mueller, P. E.; Mumm, H. P.; Napolitano, J.; Neilson, R.; Nikkel, J. A.; Nour, S.; Palomino, J. L.; Pessard, H.; Pushin, D. A.; Qian, X.; Réal, J.-S.; Ricol, J.-S.; Roca, C.; Rogly, R.; Rosero, R.; Salagnac, T.; Savu, V.; Schoppmann, S.; Searles, M.; Sergeyeva, V.; Soldner, T.; Stutz, A.; Surukuchi, P. T.; Tyra, M. A.; Varner, R. L.; Venegas-Vargas, D.; Vialat, M.; Weatherly, P. B.; White, C.; Wilhelmi, J.; Woolverton, A.; Yeh, M.; Zhang, C.; Zhang, X.

    Physical review letters, 02/2022, Volume: 128, Issue: 8
    Journal Article