Ahn, J. K.; Beckford, B.; Beechert, J.; Bryant, K.; Campbell, M.; Chen, S. H.; Comfort, J.; Dona, K.; Hara, N.; Haraguchi, H.; Hsiung, Y. B.; Hutcheson, M.; Inagaki, T.; Kamiji, I.; Kawasaki, N.; Kim, E. J.; Kim, J. L.; Kim, Y. J.; Ko, J. W.; Komatsubara, T. K.; Kotera, K.; Kurilin, A. S.; Lee, J. W.; Lim, G. Y.; Lin, C.; Lin, Q.; Luo, Y.; Ma, J.; Maeda, Y.; Mari, T.; Masuda, T.; Matsumura, T.; Mcfarland, D.; McNeal, N.; Micallef, J.; Miyazaki, K.; Murayama, R.; Naito, D.; Nakagiri, K.; Nanjo, H.; Nishimiya, H.; Nomura, T.; Ohsugi, M.; Okuno, H.; Sasaki, M.; Sasao, N.; Sato, K.; Sato, T.; Sato, Y.; Schamis, H.; Seki, S.; Shimizu, N.; Shimogawa, T.; Shinkawa, T.; Shinohara, S.; Shiomi, K.; Su, S.; Sugiyama, Y.; Suzuki, S.; Tajima, Y.; Taylor, M.; Tecchio, M.; Togawa, M.; Tung, Y. C.; Wah, Y. W.; Watanabe, H.; Woo, J. K.; Yamanaka, T.; Yoshida, H. Y.