UNI-MB - logo
UMNIK - logo
 
E-resources
Peer reviewed
  • Parity-Violating Electron S...
    Aniol, K. A.; Armstrong, D. S.; Averett, T.; Benaoum, H.; Bertin, P. Y.; Burtin, E.; Cahoon, J.; Cates, G. D.; Chang, C. C.; Chao, Y.-C.; Chen, J.-P.; Choi, Seonho; Chudakov, E.; Craver, B.; Cusanno, F.; Decowski, P.; Deepa, D.; Ferdi, C.; Feuerbach, R. J.; Finn, J. M.; Frullani, S.; Fuoti, K.; Garibaldi, F.; Gilman, R.; Glamazdin, A.; Gorbenko, V.; Grames, J. M.; Hansknecht, J.; Higinbotham, D. W.; Holmes, R.; Holmstrom, T.; Humensky, T. B.; Ibrahim, H.; de Jager, C. W.; Jiang, X.; Kaufman, L. J.; Kelleher, A.; Kolarkar, A.; Kowalski, S.; Kumar, K. S.; Lambert, D.; LaViolette, P.; LeRose, J.; Lhuillier, D.; Liyanage, N.; Margaziotis, D. J.; Mazouz, M.; McCormick, K.; Meekins, D. G.; Meziani, Z.-E.; Michaels, R.; Moffit, B.; Monaghan, P.; Munoz-Camacho, C.; Nanda, S.; Nelyubin, V.; Neyret, D.; Paschke, K. D.; Poelker, M.; Pomatsalyuk, R.; Qiang, Y.; Reitz, B.; Roche, J.; Saha, A.; Singh, J.; Snyder, R.; Souder, P. A.; Subedi, R.; Suleiman, R.; Sulkosky, V.; Tobias, W. A.; Urciuoli, G. M.; Vacheret, A.; Voutier, E.; Wang, K.; Wilson, R.; Wojtsekhowski, B.; Zheng, X.

    Physical review letters, 01/2006, Volume: 96, Issue: 2
    Journal Article