Won, E.; Adachi, I.; Asner, D. M.; Aushev, T.; Ayad, R.; Bakich, A. M.; Bansal, V.; Barberio, E.; Behera, P.; Bhuyan, B.; Biswal, J.; Červenkov, D.; Chekelian, V.; Chen, A.; Chilikin, K.; Chistov, R.; Dash, N.; Drásal, Z.; Eidelman, S.; Epifanov, D.; Farhat, H.; Ferber, T.; Fulsom, B. G.; Gaur, V.; Garmash, A.; Greenwald, D.; Haba, J.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Inami, K.; Inguglia, G.; Ishikawa, A.; Iwasaki, Y.; Jeon, H. B.; Joffe, D.; Julius, T.; Kang, K. H.; Kawasaki, T.; Kim, D. Y.; Kim, K. T.; Kim, M. J.; Kim, Y. J.; Kodyš, P.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kulasiri, R.; Kwon, Y.-J.; Lee, I. S.; Li, C. H.; Li, L.; Li, Y.; Libby, J.; Liventsev, D.; Matsuda, T.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nayak, M.; Nishida, S.; Okuno, S.; Pakhlov, P.; Park, C.-S.; Paul, S.; Piilonen, L. E.; Pulvermacher, C.; Rauch, J.; Ritter, M.; Sakai, Y.; Santelj, L.; Sanuki, T.; Sato, Y.; Schneider, O.; Schnell, G.; Semmler, D.; Senyo, K.; Seon, O.; Shebalin, V.; Shen, C. P.; Shiu, J.-G.; Starič, M.; Sumiyoshi, T.; Takizawa, M.; Uehara, S.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Van Hulse, C.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vorobyev, V.; Wang, C. H.; Watanabe, Y.; Yamaoka, J.; Yook, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A.