UNI-MB - logo
UMNIK - logo
 
E-resources
Full text
Peer reviewed Open access
  • Publisher Erratum: Producti...
    Adrich, P.; Blumer, P.; Caratsch, G.; Chung, M.; Cladé, P.; Comini, P.; Crivelli, P.; Dalkarov, O.; Debu, P.; Douillet, A.; Drapier, D.; Froelich, P.; Garroum, N.; Guellati-Khelifa, S.; Guyomard, J.; Hervieux, P.-A.; Hilico, L.; Indelicato, P.; Jonsell, S.; Karr, J.-P.; Kim, B.; Kim, S.; Kim, E.-S.; Ko, Y. J.; Kosinski, T.; Kuroda, N.; Latacz, B. M.; Lee, B.; Lee, H.; Lee, J.; Lim, E.; Liszkay, L.; Lunney, D.; Manfredi, G.; Mansoulié, B.; Matusiak, M.; Nesvizhevsky, V.; Nez, F.; Niang, S.; Ohayon, B.; Park, K.; Paul, N.; Pérez, P.; Regenfus, C.; Reynaud, S.; Roumegou, C.; Roussé, J.-Y.; Sacquin, Y.; Sadowski, G.; Sarkisyan, J.; Sato, M.; Schmidt-Kaler, F.; Staszczak, M.; Szymczyk, K.; Tanaka, T. A.; Tuchming, B.; Vallage, B.; Voronin, A.; van der Werf, D. P.; Welker, A.; Won, D.; Wronka, S.; Yamazaki, Y.; Yoo, K.-H.; Yzombard, P.

    The European physical journal. C, Particles and fields, 22/11, Volume: 83, Issue: 11
    Journal Article