UNI-MB - logo
UMNIK - logo
 
E-resources
Full text
Peer reviewed
  • Charm- and bottom-quark pro...
    Acharya, U.; Apadula, N.; Bazilevsky, A.; Beaumier, M.; Belmont, R.; Bichon, L.; Borisov, V.; Campbell, S.; Canoa Roman, V.; Connors, M.; Csörgő, T.; DeBlasio, K.; Drees, A.; Fadem, B.; Fields, D. E.; Fokin, S. L.; Franz, A.; Frawley, A. D.; Gal, C.; Giordano, F.; Greene, S. V.; Hanks, J.; Haseler, T. O. S.; Hill, J. C.; Hodges, A.; Hong, B.; Hoshino, T.; Huang, J.; Inaba, M.; Jacak, B. V.; Jiang, X.; Johnson, B. M.; Kanda, S.; Kang, J. H.; Kawall, D.; Kimelman, B.; Kim, G. W.; Kincses, D.; Kingan, A.; Kovacs, L.; Kurita, K.; Larionova, D.; Lim, S. H.; Loomis, D. A.; Lynch, D.; Majoros, T.; Makek, M.; Mignerey, A. C.; Milov, A.; Mishra, D. K.; Miyasaka, S.; Muhammad, A.; Mulilo, B.; Murakami, T.; Mwai, A.; Nagle, J. L.; Nattrass, C.; Niida, T.; Nishimura, S.; Nouicer, R.; Nukazuka, G.; Nyanin, A. S.; Ogilvie, C. A.; Orosz, M.; Oskarsson, A.; Ozawa, K.; Papavassiliou, V.; Park, J. S.; Patel, M.; Peng, J.-C.; Peressounko, D.Yu; Pisani, R. P.; Pun, A.; Runchey, J.; Schmoll, B. K.; Sen, A.; Sexton, A.; Shibata, T.-A.; Shimomura, M.; Shi, Z.; Shukla, P.; Singh, C. P.; Slunečka, M.; Soltz, R. A.; Sondheim, W. E.; Stoll, S. P.; Sumita, T.; Sun, Z.; Sziklai, J.; Tanida, K.; Taranenko, A.; Todoroki, T.; Tserruya, I.; Ueda, Y.; Velkovska, J.; White, A. S.; Yanovich, A.; Yoo, J. H.; Zajc, W. A.; Zhou, S.

    Physical review. C, 4/2024, Volume: 109, Issue: 4
    Journal Article