UNI-MB - logo
UMNIK - logo
 
(UM)
  • Kvantitativna analiza mikroposnetkov z odbitimi elektroni kot pomoč pri identifikaciji faz v livnih zlitinah [Elektronski vir]
    Zupanič, Franc
    V livarstvu se pri karakterizaciji mikrostrukture poleg svetlobne mikroskopijen ajpogosteje uporablja kombinacija vrstične elektronske mikroskopije (SEM) in energijskodisperzijske spektroskopije ... rentgenskih žarkov (EDS). EDS s sodobnimi detektorji omogoča kvalitativno analizo elementov vse od Be do U ter kvantitativno analizo vseh elementov od B naprej. Kljub temu je točnost EDS analize pogosto vprašljiva zaradi neprimerne uporabe pospeševalne napetosti, toka primarnih elektronov, zelo majhne velikosti analiziranih delcev, ipd. S SEM lahko dobimo tudi mikroposnetke z odbitimi elektroni (BSE), ki prav tako nosijo informacijo o kemijski sestavi faz. V zvezi s tem je bila razvita metoda, s katero lahko iz slike odbitih elektronov izluščimo podatke o koeficientu povratnega sipanja, , faz, ki so navzoče v mikrostrukturi. Koeficiente povratnega sipanja lahko izračunamo tudi iz rezultatov kvantitativne EDS-analize z uporabo empiričnih enačb in Monte Carlo simulacij. S primerjavo koeficientov povratnega sipanja pridobljenih na dva med seboj povsem neodvisna načina lahko preverimo skladnost rezultatov EDS-analize, s čimer se lahko izognemo številnim napačnim interpretacijam rezultatov. V nekaterih primerih lahko iz analize slike odbitih elektronov dobimo tudi podatke o koncentraciji elementov, ki jih z EDS-analizo ne moremo detektirati.
    Vrsta gradiva - prispevek na konferenci
    Leto - 2010
    Jezik - slovenski
    COBISS.SI-ID - 14386198