-
Etika in vpliv kulture na poslovno komuniciranje : diplomsko deloTasič, Klara, 1976-Vrsta gradiva - diplomsko deloZaložništvo in izdelava - Maribor : [K. Tasič], 2003Jezik - slovenskiCOBISS.SI-ID - 6762268
Avtor
Tasič, Klara, 1976-
Drugi avtorji
Treven, Sonja
Teme
Združene države Amerike |
Poslovna kultura |
Kulturni vplivi |
Primerjalna analiza |
Diplomske naloge |
Japonska |
Poslovna kultura |
Kulturni vplivi |
Primerjalna analiza |
Diplomske naloge |
Švedska |
Poslovna kultura |
Kulturni vplivi |
Primerjalna analiza |
Diplomske naloge |
Nemčija |
Poslovna kultura |
Kulturni vplivi |
Primerjalna analiza |
Diplomske naloge |
mednarodno poslovanje |
medkulturna komunikacija |
sociologija kulture |
poslovna etika |
poslovno komuniciranje |
kultura |
definicija |
kultura podjetja |
sistemi |
modeli |
korupcija |
etnične karakteristike |
razlike |
jezikovna antropologija |
poslovanje podjetja |
poslovna morala |
dežele |
praksa |
mednarodna kooperacija |
mednarodno ekonomsko sodelovanje |
socialna antropologija |
ZDA |
Japonska |
Švedska |
Nemčija
Knjižnica | Signatura – lokacija, inventarna št. ... | Status izvoda |
---|---|---|
Ekonomsko-poslovna fakulteta, Maribor | A D 7324 | ni za izposojo |
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Tasič, Klara, 1976- | |
Treven, Sonja | 07780 |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.