UNI-MB - logo
UMNIK - logo
 
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano
  • Study of the lineshape of X...
    Hirata, H.; Iijima, T.; Banerjee, Sw; Behera, P.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bozek, A.; Bračko, M.; Branchini, P.; Browder, T. E.; Budano, A.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Cho, H. E.; Cho, S.-J.; Choi, Y.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; Di Capua, F.; Dong, T. V.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Garmash, A.; Goldenzweig, P.; Graziani, E.; Hadjivasiliou, C.; Hara, T.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hedges, M. T.; Herrmann, D.; Ishikawa, A.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Kalita, D.; Kim, C. H.; Kinoshita, K.; Korobov, A.; Korpar, S.; Križan, P.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lam, T.; Lange, J. S.; Lautenbach, K.; Lee, S. C.; Li, Y.; Libby, J.; Liventsev, D.; Luo, T.; Martini, A.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Mrvar, M.; Mussa, R.; Nakamura, I.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Nayak, L.; Ono, H.; Pang, T.; Park, J.; Patra, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Russo, G.; Sangal, A.; Schnell, G.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shwartz, B.; Solovieva, E.; Starič, M.; Sutcliffe, W.; Tamponi, U.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Unno, Y.; Uno, S.; Usov, Y.; Vinokurova, A.; Vossen, A.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Werbycka, O.; Xu, X.; Yabsley, B. D.; Yang, S. B.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.

    Physical review. D, 6/2023, Letnik: 107, Številka: 11
    Journal Article