UNI-MB - logo
UMNIK - logo
 
E-viri
  • Measurement of the B ± prod...
    Akar, S.; Archilli, F.; Artamonov, A.; Aslanides, E.; Bel, L. J.; Benson, S.; Bertolin, A.; Betti, F.; Blouw, J.; Boettcher, T.; Bonivento, W.; Bowen, E.; Cardinale, R.; Cheung, S.-F.; Chobanova, V.; Cid Vidal, X.; Cogoni, V.; Coquereau, S.; Couturier, B.; Cruz Torres, M.; De Bruyn, K.; Dosil Suárez, A.; Dujany, G.; Dzhelyadin, R.; Egorychev, V.; Eitschberger, U.; Farley, N.; Fay, R.; Ferrari, F.; Ferro-Luzzi, M.; Fiore, M.; Fitzpatrick, C.; Färber, C.; Gerick, D.; Gibson, V.; Giubega, L.; Gotti, C.; Graziani, G.; Harrison, J.; Hatch, M.; He, J.; Henry, L.; Jans, E.; Karacson, M.; Koopman, R. F.; Krzemien, W.; Kucharczyk, M.; Lazzeroni, C.; van Leerdam, J.; Lefrançois, J.; Lemos Cid, E.; Likhomanenko, T.; Machefert, F.; Maguire, K.; Marchand, J. F.; McNab, A.; Merk, M.; Milanes, D. A.; Muheim, F.; Nakada, T.; Neufeld, N.; Nguyen, T. D.; O’Hanlon, D. P.; Palano, A.; Petrolini, A.; Picatoste Olloqui, E.; Poikela, T.; Popov, D.; Prisciandaro, J.; Rachwal, B.; Raniuk, I.; Robbe, P.; Rodriguez Perez, P.; Rotondo, M.; Satriano, C.; Schael, S.; Schiller, M.; Schindler, H.; Schubiger, M.; Schwemmer, R.; Semennikov, A.; Serra, N.; Sestini, L.; Shapoval, I.; Smith, M.; Spaan, B.; Stenyakin, O.; Tsaregorodtsev, A.; Viaud, B.; Vitti, M.; Vázquez Sierra, C.; Wallace, C.; Wallace, R.; Wilkinson, M.; Williams, M.; Williams, M. P.; Xie, Y.; Yang, Z.; Zhu, X.; Zhukov, V.

    Physical review. D, 3/2017, Letnik: 95, Številka: 5
    Journal Article