Averbeck, R.; Azmoun, B.; Babintsev, V.; Baksay, L.; Bassalleck, B.; Bazilevsky, A.; Belmont, R.; Buesching, H.; Chi, C. Y.; Choudhury, R. K.; Connors, M.; Constantin, P.; Danchev, I.; Drees, A.; Drees, K. A.; Fokin, S. L.; Frantz, J. E.; Fujiwara, K.; Fusayasu, T.; Garishvili, I.; Hahn, K. I.; Hamblen, J.; Hanks, J.; Heffner, M.; Hill, J. C.; Hohlmann, M.; Holzmann, W.; Huang, S.; Ichihara, T.; Imai, K.; Isenhower, D.; Ivanischev, D.; Jia, J.; Jin, J.; Joo, K. S.; Kajihara, F.; Kametani, S.; Kempel, T.; Kim, B. I.; Kiss, Á.; Komkov, B.; Konno, M.; Kunde, G. J.; Kyle, G. S.; Lai, Y. S.; Lee, K. S.; Leitch, M. J.; Lenzi, B.; Liška, T.; Litvinenko, A.; Liu, M. X.; Love, B.; Makdisi, Y. I.; Malik, M. D.; McGaughey, P. L.; Means, N.; Miki, K.; Mohanty, A. K.; Nagamiya, S.; Naglis, M.; Nakamura, T.; Newby, J.; Onuki, Y.; Park, J.; Park, S. K.; Park, W. J.; Reygers, K.; Riabov, V.; Riabov, Y.; Rosendahl, S. S. E.; Rosnet, P.; Ružička, P.; Sato, T.; Sawada, S.; Sedgwick, K.; Seele, J.; Seidl, R.; Shein, I.; Shoji, K.; Shukla, P.; Silva, C. L.; Silvermyr, D.; Slunečka, M.; Soltz, R. A.; Sukhanov, A.; Takagui, E. M.; Taketani, A.; Tanabe, R.; Tanida, K.; Taranenko, A.; Tarján, P.; Toia, A.; Vale, C.; van Hecke, H. W.; Vértesi, R.; Watanabe, Y.; Winter, D.; Yamaura, K.; Yanovich, A.; You, Z.