Methods for the measurement of the refractive index of MeV photons using total internal and external reflection

E-viri

PDF

Celotno besedilo

Recenzirano Odprti dostop

$Methods for the measurement of the refractive index of MeV photons using total internal and external reflection$

Methods for the measurement of the refractive index of MeV photons using total internal and external reflection

Aginian, M A; Ispirian, K A; Ispiryan, M

Journal of physics. Conference series, 01/2014, Letnik: 517, Številka: 1

Journal Article

Recently it has been theoretically and experimentally shown that for 1-10 MeV and 1-2 MeV photons, respectively, the refractive index of Si is greater than 1. Taking into account the difficulties of the carried out experiment it is proposed to measure directly the refractive index of Si and other materials detecting the total internal and external reflections.

Išči dalje

Avtor

Aginian, M A | Ispirian, K A | Ispiryan, M

Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.

Leto	Faktor vpliva		Izdaja		Kategorija		Razvrstitev
Leto	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP

Povezave do osebnih bibliografij avtorjev	Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS

Vir: Osebne bibliografije in: SICRIS

Naloži sliko

Vnos na polico

Dodajanje gradiva na polico je uspelo.

Dodajanje gradiva na polico je spodletelo.

Dodajanje gradiva na polico ni bilo potrebno.

Trajna povezava

E-pošta

Faktor vpliva

Izberite knjižnično izkaznico:

Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana

Citiranje

Tema