-
Celovit pristop k ščitenju elektronskih sistemov nanosatelita pred napakami v delovanju kot posledicami ionizirajočega sevanja : doktorska disertacijaSelčan, David, elektrotehnikVrsta gradiva - disertacija ; neleposlovje za odrasleZaložništvo in izdelava - [Maribor] : [D. Selčan], 2018Jezik - slovenskiCOBISS.SI-ID - 296723200
Povezava(-e):
Digitalna knjižnica Univerze v Mariboru – DKUM
Digitalna knjižnica Slovenije - dLib.siDostop z namenskih računalnikov v prostorih NUK
Avtor
Selčan, David, elektrotehnik
Drugi avtorji
Kramberger, Iztok
Teme
Nanosateliti |
Zaščita |
Disertacije |
nanosatelit |
posamezni sevalni dogodki |
pretokovna zaščita |
stražni časovnik |
strpnost na napake |
zaščita pred ionizirajočim sevanjem |
nanosatellite |
single event effects |
current limiter |
watchdog timer |
fault tolerance |
radiation protection
Knjižnica/institucija |
Kraj | Akronim | Za izposojo | Druga zaloga |
---|---|---|---|---|
Knjižnica tehniških fakultet, Maribor | Maribor | KTFMB |
v čitalnico 1 izv.
|
|
Narodna in univerzitetna knjižnica, Ljubljana | Ljubljana | NUK |
v čitalnico 1 izv.
|
ni za izposojo 1 izv.
|
Univerzitetna knjižnica Maribor | Maribor | UKM |
v čitalnico 1 izv.
|
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Selčan, David, elektrotehnik | 37698 |
Kramberger, Iztok | 18590 |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.