-
Testiranje design-a trgovske znamke Mercator : diplomsko delo visoke poslovne šoleLotrič, MarjetkaVrsta gradiva - diplomsko delo ; neleposlovje za odrasleZaložništvo in izdelava - Ljubljana : [M. Lotrič], 2000Jezik - slovenskiCOBISS.SI-ID - 11430118
Avtor
Lotrič, Marjetka
Drugi avtorji
Potočnik, Vekoslav
Teme
Slovenija |
case study |
podjetje |
trgovinsko podjetje |
Mercator |
potrošnik |
nakupovalni centri |
prodaja |
prodajna politika |
design |
embalaža |
živila |
primerjave |
Emona |
Spar |
mednarodne primerjave |
EU |
ZDA |
Slovenia |
case study |
enterprises |
commercial enterprise |
Mercator |
consumer |
shopping centres |
sales |
trade policy |
design |
packaging |
provisions |
comparisons in statistics |
Emona |
Spar |
international comparisons |
EU |
USA |
USA
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Signatura – lokacija, inventarna št. ... |
Status izvoda | Rezervacija |
---|---|---|
Skladišče II-12350- 0000000687 IN: 000183332 Skladišče II-12350- 687 IN: 000183332 |
prosto - za čitalnico
|
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Potočnik, Vekoslav | 02173 |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.