Centralna tehniška knjižnica Univerze v Ljubljani (CTK)
-
Applied scanning probe methods XI [Elektronski vir] : scanning probe microscopy techniquesThe volumes XI, XII and XIII examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The first volume came out in January 2004, the second to fourth ... volumes in early 2006 and the fifth to seventh volumes in late 2006. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely comprehensive overview of SPM applications. After introducing scanning probe microscopy, including sensor technology and tip characterization, chapters on use in various industrial applications are presented. Industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters have been written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspectiveVrsta gradiva - e-knjigaZaložništvo in izdelava - Berlin ; London : Springer, cop. 2009Jezik - angleškiISBN - 978-3-540-85037-3; 3-540-85037-6COBISS.SI-ID - 1541280479
Povezava(-e):
SpringerLink e-books 2008-2012Celotno besedilo dostopno za uporabnike SpringerLink slovenskega konzorcija neprofitnih institucij
Full text accessible to the users of SpringerLink Slovenian Consortium of Non-Profit Institutions
DOI
Drugi avtorji
Bhushan, Bharat, 1949- |
Fuchs, Harald
Teme
Scanning probe microscopy |
Scanning probe microscopy |
Industrial applications |
Materials |
Microscopy |
Electronic books
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Naslov za dostavo:
Med podatki člana manjka naslov.
Storitev za pridobivanje naslova trenutno ni dostopna, prosimo, poskusite še enkrat.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in naslov za dostavo ter dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrani naslov za dostavo in dokončali postopek rezervacije.
Obvestilo
Trenutno je storitev za avtomatsko prijavo in rezervacijo nedostopna. Gradivo lahko rezervirate sami na portalu Biblos ali ponovno poskusite tukaj kasneje.
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Gradivo iz matične enote je brezplačno. Če je gradivo na mesto prevzema dostavljeno iz drugih enot, lahko knjižnica to storitev zaračuna.
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Rezervacija v teku
Prosimo, počakajte trenutek.
Rezervacija je uspela.
Rezervacija ni uspela.
Rezervacija...
Članska izkaznica:
Mesto prevzema: