Kemijski inštitut, Ljubljana (KILJ)
-
Contactless characterization of electronic properties of nanomaterials using dielectric force microscopyLu, Wei ...Characterization of electronic properties of nanomaterials usually involves fabricating field effect transistors and deriving materials properties from device performance measurements. The difficulty ... in fabricating electrical contacts to extremely small-sized nanomaterials as well as the intrinsic heterogeneity of nanomaterials makes it a challenging task to measure the electronic properties of large numbers of individual nanomaterials. Here, we utilize a scanning probe technique, the dielectric force microscopy (DFM) to address the challenges. The DFM technique measures the low frequency dielectric response of nanomaterials, which is intrinsically related to their electrical conductivity. The incorporation of a gate bias voltage in DFM measurements allows for charge carrier density modulation, which is exploited to determine the carrier type in nanomaterials such as semiconducting single-walled carbon nanotubes (SWNTs) and ZnO nanowires (ZnO NWs). This technique avoids the need of electrical contacts and inherits the spatial mapping capability of scanning probe microscopy, as manifested in the imaging of intratube metallic/semiconducting junctions in SWNTs. We expect the DFM technique to find broad applications in the characterization of various nanoelectonic materials and nanodevicesVir: The journal of physical chemistry. C, Nanomaterials and interfaces. - ISSN 1932-7447 (Vol. 116, no. 12, 2012, str. 7158-7163)Vrsta gradiva - članek, sestavni delLeto - 2012Jezik - angleškiCOBISS.SI-ID - 4936730
vir: The journal of physical chemistry. C, Nanomaterials and interfaces. - ISSN 1932-7447 (Vol. 116, no. 12, 2012, str. 7158-7163)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Lu, Wei | |
Zhang, Jie | |
Li, Yize Stephanie | |
Chen, Qi | |
Wang, Xiaoping | |
Hassanien, Abdou | 22768 |
Chen, Liwei |
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Naslov za dostavo:
Med podatki člana manjka naslov.
Storitev za pridobivanje naslova trenutno ni dostopna, prosimo, poskusite še enkrat.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in naslov za dostavo ter dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrani naslov za dostavo in dokončali postopek rezervacije.
Obvestilo
Trenutno je storitev za avtomatsko prijavo in rezervacijo nedostopna. Gradivo lahko rezervirate sami na portalu Biblos ali ponovno poskusite tukaj kasneje.
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Gradivo iz matične enote je brezplačno. Če je gradivo na mesto prevzema dostavljeno iz drugih enot, lahko knjižnica to storitev zaračuna.
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Rezervacija v teku
Prosimo, počakajte trenutek.
Rezervacija je uspela.
Rezervacija ni uspela.
Rezervacija...
Članska izkaznica:
Mesto prevzema: