Narodna in univerzitetna knjižnica, Ljubljana (NUK)
-
Avtomatizirano merjenje enosmernih karakteristik polprevodniških elementovKosi, Andrej ; Solar, Mitja ; Kramberger, IztokV prispevku obravnavamo avtomatizirano merjenje enosmernih karakteristik polprevodniških elementov. Na področju avtomatiziranega merjenja karakteristik obstajajo številne rešitve. Večina le-teh je ... ozko namenska in omogočajo merjenje le določenih polprevodniških elementov. Cilj je razviti široko zasnovan merilni sistem, ki bo omogočal avtomatsko merjenje različnih polprevodniških elementov. Takšna izvedba omogoča merjenje enostavnih karakteristik na primer diode in merjenje bolj kompleksnih parametričnih karakteristik na primer tranzistorja. Dodatna prednost take zasnove je možnost enostavne razširitve z novimi funkcijami na primer z raznimi analizami izmerjenih podatkov. Prikazani so splošna blokovna shema, lastnosti merilnega sistema in merilni rezultati. za nastavljanje vrednosti vhodnih signalov in merjenje izhodnih je uporabljen mikrokrmilnik, za nadzor, predstavitev rezultatov, hranjenje vrednosti in obdelavo pa osebni računalnik. Zasnova merilnega sistema omogoča prosto izbiro programskega orodja, ki ga bomo uporabljali na osebnem računalniku. V našem primeru smo izbrali programski paket LabVIEW, ki omogoča hiter in enostaven razvoj, ter možnost nadgradnje programa z novimi funkcijami. Predstavljeni so primeri avtomatiziranih meritev in primerjava našega merilnega sistema s komercialno merilno kartico. Prednost našega merilnega sistema je predvsem v širšem merilnem območju merjenja, bistveno boljši tokovni zmogljivosti in cenovni ugodnosti sistema.Vir: Informacije MIDEM : časopis za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale = časopis za mikroelektroniku, elektronske sastavne dijelove i materijale = journal of microelectronics, electronic components and materials. - ISSN 0352-9045 (Letn. 34, št. 2, jun. 2004, str. 107-111)Vrsta gradiva - članek, sestavni delLeto - 2004Jezik - slovenskiCOBISS.SI-ID - 9271318
Avtor
Kosi, Andrej |
Solar, Mitja |
Kramberger, Iztok
Teme
električne meritve |
merjenje |
polprevodniki |
mikrokrmilniki |
LabVIEW |
pretvorniki
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Kosi, Andrej | 26336 |
Solar, Mitja | 04535 |
Kramberger, Iztok | 18590 |
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Naslov za dostavo:
Med podatki člana manjka naslov.
Storitev za pridobivanje naslova trenutno ni dostopna, prosimo, poskusite še enkrat.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in naslov za dostavo ter dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrani naslov za dostavo in dokončali postopek rezervacije.
Obvestilo
Trenutno je storitev za avtomatsko prijavo in rezervacijo nedostopna. Gradivo lahko rezervirate sami na portalu Biblos ali ponovno poskusite tukaj kasneje.
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Gradivo iz matične enote je brezplačno. Če je gradivo na mesto prevzema dostavljeno iz drugih enot, lahko knjižnica to storitev zaračuna.
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Rezervacija v teku
Prosimo, počakajte trenutek.
Rezervacija je uspela.
Rezervacija ni uspela.
Rezervacija...
Članska izkaznica:
Mesto prevzema:
Naročanje gradiva za izposojo v čitalnice
Naročanje kopij člankov
Urnik dostave gradiva z oznako DS v signaturi