-
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysisGoldstein, Joseph I. ...Vrsta gradiva - knjigaIzdaja - 4th ed.Založništvo in izdelava - New York : Springer, cop. 2018Jezik - angleškiISBN - 978-1-4939-6674-5COBISS.SI-ID - 23112707
Avtor
Goldstein, Joseph I. |
Newbury, Dale E. |
Michael, Joseph R. |
Ritchie, Nicholas W. M. |
Scott, John Henry J. |
Joy, David C.
Teme
analizna kemija |
mikroanalize |
rastrska elektronska mikroskopija |
SEM |
rentgenska mikroanaliza |
kvalitativna analiza |
kvantitativna analiza |
strukturna analiza |
trdi materiali |
polimeri |
biološki materiali |
priprava vzorcev |
kovine |
keramika |
kamnine |
minerali |
mikroelektronika |
neprevodni materiali |
učbeniki |
učbeniki
Rezervirajte gradivo na želenem mestu prevzema.
Mesto prevzema |
Status gradiva | Rezervacija |
---|---|---|
Univerza v Novi Gorici |
prosto - na dom, čas izposoje: 21 dni
|
Signatura – lokacija, inventarna št. ... |
Status izvoda |
---|---|
Knjižnica M 0000000054 SCANNING IN: 020240058 Knjižnica M 54 SCANNING IN: 020240058 |
prosto - na dom, čas izposoje: 21 dni
|
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Goldstein, Joseph I. | |
Newbury, Dale E. | |
Michael, Joseph R. | |
Ritchie, Nicholas W. M. | |
Scott, John Henry J. | |
Joy, David C. |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.