E-viri
Recenzirano
-
Egorov, V.; Egorov, E.
Russian microelectronics, 12/2023, Letnik: 52, Številka: Suppl 1Journal Article
— The work presents short characteristics of the X-ray fluxes waveguide-resonance propagation phenomenon. There is described peculiarities of the X-ray nanophotonics base device functioned in frame of the phenomenon – the planar X-ray waveguide-resonator and denoted directions of its development. X-ray waveguide-resonance devices elaboration in the process of base construction modification are discussed.
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
To gradivo vam je dostopno v celotnem besedilu. Če kljub temu želite naročiti gradivo, kliknite gumb Nadaljuj.