E-viri
Odprti dostop
-
Gillaspy, J. D; Blagojevic, B; Dalgarno, A; Fahey, K; Kharchenko, V; Laming, J. M; Bigot, E. -O. Le; Lugosi, L; Makonyi, K; Ratliff, L. P; Schnopper, H. W; Silver, E. H; Takacs, E; Tan, J. N; Tawara, H; Tokési, K
03/2006Journal Article
14th APS Topical Conference on Atomic Processes in Plasmas, \'{E}tats-Unis d'Am\'{e}rique (2004) 245 After a brief introduction to the NIST EBIT facility, we present the results of three different types of experiments that have been carried out there recently: EUV and visible spectroscopy in support of the microelectronics industry, laboratory astrophysics using an x-ray microcalorimeter, and charge exchange studies using extracted beams of highly charged ions.
Avtor
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
To gradivo vam je dostopno v celotnem besedilu. Če kljub temu želite naročiti gradivo, kliknite gumb Nadaljuj.