E-viri
Recenzirano
Odprti dostop
-
Kawai, Jun
ISIJ International, 2022/05/15, 2022-5-15, Letnik: 62, Številka: 5Journal Article
In steel manufacturing process, one X-ray fluorescence analyzer with 40 crystal spectrometers is sometimes used for elemental compositional monitoring to control the process. The present paper is a suggestion to improve the performance of this bulk of X-ray fluorescence spectrometers by replacing the proportional/scintillation counters by silicon drift detectors (SDD) with digital signal processors (DSP). The wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometer with SDDs will enable the automatic adjustment of the optimal measuring condition. The shortcomings of both SDD and proportional counters are discussed.
Avtor
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
To gradivo vam je dostopno v celotnem besedilu. Če kljub temu želite naročiti gradivo, kliknite gumb Nadaljuj.