Abe, S.; Asami, S.; Gando, A.; Gando, Y.; Gima, T.; Goto, A.; Hachiya, T.; Hata, K.; Hosokawa, K.; Ichimura, K.; Ieki, S.; Ikeda, H.; Inoue, K.; Ishidoshiro, K.; Kamei, Y.; Kawada, N.; Kishimoto, Y.; Kinoshita, T.; Koga, M.; Maemura, N.; Mitsui, T.; Miyake, H.; Nakamura, K.; Nakamura, R.; Ozaki, H.; Sakai, T.; Sambonsugi, H.; Shimizu, I.; Shirai, J.; Shiraishi, K.; Suzuki, A.; Suzuki, Y.; Takeuchi, A.; Tamae, K.; Eizuka, M.; Kurasawa, M.; Nakahata, T.; Futagi, S.; Watanabe, H.; Yoshida, Y.; Obara, S.; Ichikawa, A. K.; Yoshida, S.; Umehara, S.; Fushimi, K.; Berger, B. E.; Fujikawa, B. K.; Learned, J. G.; Maricic, J.; Axani, S. N.; Smolsky, J.; Laber-Smith, C.; Winslow, L. A.; Fu, Z.; Ouellet, J.; Efremenko, Y.; Karwowski, H. J.; Markoff, D. M.; Tornow, W.; Li, A.; Detwiler, J. A.; Enomoto, S.; Decowski, M. P.; Grant, C.; Song, H.; O’Donnell, T.; Dell’Oro, S.